Metrolux VIS-NIR 光束质量分析仪 产品简介 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

FM系列焦斑质量分析仪 紧凑的探测器头由一个CCD传感器、一个集成的衰减器、一个近场透镜和Beamlux Ⅱ高级分析软件组成。功率与工作距离与适配的探测器选择有关，详见下方型号选择表格。 大范围波长可选，根据近场透镜确保对大数值孔径和高脉冲功率密度的光斑进行测量。

metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS Metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪 WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。

SHR激光波长计可以快速精确的连续光/脉冲光的波长，在190-1100nm可测范围内，精度达到了+/-3pm, 光学分辨率（FWHM）可以达到30000（λ/Δλ（FWHM）），在紫外段，可以达到6pm，在近红外波段可以达到40pm。 同时也可以同步分析激光的线宽等参数。

40GHz光电探测器$n EOT 的 ET-3600 系列高速光电探测器应用于时域和频率测试， ET-3600带宽高达40GHz，且光谱范围覆盖900-1700nm.。上升沿和下降沿时间只有9Ps，ET-3600提供自由空间输入和FC/UPC 输入使得适合于各种激光器的测试。

TTI光电转换器 光电探测器的原理是由辐射引起被照射材料电导率发生改变。光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等；在红外波段主要用于制导、红外热成像、红外遥感等方面。 TTI（Terahertz Technologies Inc.）生产的TIA-525，TIA-527，TIA-952系列光电

C-995光学斩波器 C-995的主要作用是将连续光调制成为有固定频率的光，同时输出调制频率。通常是与锁相放大器配合使用。C-995一般由如下几个部件构成：控制单元、斩波装置、斩波片和连接线等。

SR540光学斩波器 SR540可以满足您所有的光学调制要，无论是单光束实验，还是双光束研究。它具有4位数字频率显示、前面板频率控制、模拟电压频率控制和与两个参考输出可选择的工作模式。两个斩波片分别是5/6孔径和25/30孔径，可实现光学调制从4Hz到3.7KHz.参考频率与实际斩波频率相*，采用闭环控制系统，斩波输出更加稳定。