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夏克-哈德曼波前分析仪WFS

简要描述:metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS
Metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪 WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布,也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。

  • 产品型号:WFS3743-40-200
  • 更新时间:2016-05-05
  • 访  问  量:876

产品简介

详细介绍

metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS

 

   Metrolux 夏克-哈德曼波前分析仪WFS 3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布,也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。


品应用 
  

用于测量激光的波前;

 

测量光学器件的像差;

 

扩展的Raylux软件用于数据分析;

 

 用于透镜的质量控制

 

产品参数:

测量精度     λ / 1000 

曝光时间     10 μs - 120 s  

数据解析度:    12 Bit

帧率:        15fps     

 微透镜个数: 45×35       

 探测器类型:  2/3CCD”

有效区域:    8.97×6.71mm

微透镜大小:  200μm

焦距         40 mm;

动态范围:    90 λ

透镜焦距     7 mm

曲率半径     14 mm 

像素尺寸     6.45 μm

像素         1380 x 1040 

 

说明: C:\Users\MAZHONGHUA\Desktop\图片\激光测量\raylux_screenshot.png

                        软件界面

夏克-哈德曼波前分析仪WFS

 


 

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