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Metrolux VIS-NIR 光束质量分析仪 产品简介 metrolux激光光束分析仪可测量激光强度分布,范围包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直径从1µm - 100 mm,可按EN-ISO标准记录和分析光束。 具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具,可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。
FM系列焦斑质量分析仪 紧凑的探测器头由一个CCD传感器、一个集成的衰减器、一个近场透镜和Beamlux Ⅱ高级分析软件组成。功率与工作距离与适配的探测器选择有关,详见下方型号选择表格。 大范围波长可选,根据近场透镜确保对大数值孔径和高脉冲功率密度的光斑进行测量。