光束质量分析仪可测量激光强度分布,范围包括EUV,UV,VIS和NIR,光斑直径从1µm - 100 mm,可按EN-ISO标准记录和分析光束。
具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具,可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。
机械部分采用特殊表面细化、光学部分采用光学增透膜把杂散光减小到zui小的优化探测头。
VIS/NIR激光光束分析仪 UV激光光束分析仪
基于激光光束分析仪的“光束检测”的CCD相机,被优化适合于低输出功率的连续和脉冲激光器准直光束分析,大部分VIS/NIR波长范围的激光,可用此系统典型分析,例如Nd:YAG或者半导体激光器通常使用此系统分析。
光束质量分析仪包含Beamlux II软件、标准摄像头及附件如中性密度滤光片组合和可快速建立测量的设备,使用这些可选配件,系统也可用于高功率激光束和焦点直径小于10µm的测量。
产品应用:测量光斑大小、发散角、近场、远场、光束指向稳定性、功率、焦散、均匀性
光束质量分析仪的使用
目的:
1、学会使用光束质量分析仪 BeamScope-P7探头测量激光光束M2
2、学会使用激光质量分析仪WinCamD 探头观察和测量激光光斑。
原理:
2M 是一个描述激光光束的不完善程度的无量纲参数。2M 值越小(即光束越接近衍射极限的00TEM 的理想光束),光束就越能够紧聚焦成一个小光斑。
没有激光光束是完全理想的。由于光学谐振腔、激光介质和输出/辅助光学元件的影响,大多数光束都不是书本上介绍的“理想的”、衍射极限的、高斯截面的单一的00TEM 模式。复杂的光束可能包含多个xy TEM 模式的贡献,导致了较大的2M 因子,即使是较好的实验室用的He-Ne 激光也有1.1到1.2左右的值,而不是具有理想的00TEM 模式下的1.0的2M 值。
简单的说2M 可以定义为:实际的光束与具有相同束腰大小的、理论上的衍射极限的光束的发散程度之比为:测量2M 因子的前提条件是得到或形成一个可以测量的光束束腰。