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磁光克尔效应磁滞回线测量仪

简要描述:磁光克尔效应磁滞回线测量仪:从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。 相较于电学霍尔测量和震动磁强计,光磁克尔效应具有测量速度快,精度高,非侵入,且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。

  • 产品型号:Mag-PMA Checker
  • 更新时间:2023-11-01
  • 访  问  量:847

产品分类

Product classification

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产品简介

品牌其他品牌供货周期两周
应用领域环保,化工,电子

详细介绍

磁光克尔效应磁滞回线测量仪产品简介

从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。 相较于电学霍尔测量和震动磁强计,光磁克尔效应具有测量速度快,精度高,非侵入,且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。通过对磁滞回线的分析,用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息,亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构,磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。

上海屹持光电提供的磁滞回线测量仪标准系统按照性能优先,稳定性优先的设计思路,可以满足实验室研究及工业生产 中各种磁性薄膜材料的测试需求。针对不同磁各向异性材料的光学响应,我们提供两种测试组件:PMA Checker 以及 IMA Looper,两种系统共享一套数据采集系统,切换方便。“控制盒+光磁主体+电脑"的套装(如上图所示)即是完整的设备,无需任何外置仪表(电源,锁相放大器)客户即可快速完成磁滞回线的测量;此外,客户可以自主选择使用锁相放大器(SR830/810,Zurich MFLI)进行数据采集,该设备预留了与锁相放大器匹配的接口。

该磁滞回线测量仪产品提供基于 LabView的程序,方便客户快速上手。基于 C,Python的控制程序也可应客户要求提供。


磁光克尔效应磁滞回线测量仪应用案例

自旋/磁电子学
➢ 磁性纳米技术
➢ 非易失性磁性随机存储器
➢ 磁阻研究
➢ 磁性薄膜

➢ 磁性传感器




右图测试样品结构(Si 衬底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3)  (厚度为纳米,X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf )



磁滞回线测量仪技术参数

主要功能  
垂直膜磁滞回线测量
测试模式
磁光克尔效应-反射式
光磁主体构成
半导体激光+起偏器+检偏器+探测器+探测器放大电路+电源管理电路+样品托+霍尔传感器(可选)+电磁铁
克尔角分辨率
0.001°
磁场强度1
±3600 Oe
设备控制盒构成
数据采集模组+电磁铁电源+系统供电模组
供电输入 (控制盒)
220 VAC 50 Hz
数据采集(控制盒内)
16位精度,50kS/s
电磁铁电源 (控制盒内)
(控制盒内)90瓦
尺寸(光磁主体)2
60 毫米× 80毫米 × 160毫米
尺寸(控制盒)2
251 毫米× 60毫米 × 38毫米

1  更大磁场强度可按需定制
2  该尺寸不包含光学及电学连接器伸出的部分


该系统的定位是为客户提供稳定、快捷、磁滞回线测量设备,简单并且可靠。如需更多附加功能,例如:磁畴成像,微区测量,集成温控设备,集成电学测量设备,集成样品扫描成像等选项,我们建议客户考虑 TTT-Mag-Kerr Microscope 系列产品。



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