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高分辨近红外波前分析仪

简要描述:高分辨近红外波前分析仪
基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。

  • 产品型号:SID4-SWIR-HR
  • 更新时间:2023-03-29
  • 访  问  量:454

产品简介

品牌其他品牌价格区间面议
组成要素固体激光器产品及设备产地类别进口
应用领域电子

详细介绍

SID4-Swir-HR波前传感器

基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。


 

  

 SID4-Swir                                               光学器件测量                            自适应光学 

特点:

由于其独te的专li技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点:

1.高分辨率:160x128测量点

2.高灵敏密度:整个光谱范围内相位噪声低于2nm

3.消色差:0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm)

4.紧凑:易于集成

 

应用:

透镜测试:SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信,夜视和其他军事和监视设备。无色差,SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。

激光束测试:SID4 SWIR也可以短波红外光源,像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。

SID4-Swir产品参数:

波长范围

0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm

通光孔径

9.6 x 7.68 mm2

空间分辨率

60 µm

采样点(相位/强度)

160 x 128 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

<2nm RMS

相位精度

<span background-color:#c6d9f1;"="">15nm RMS

动态范围

100μM

采样频率

120 fps

实时分析频率

7 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

100 x 55 x 63 mm

重量

455g

 

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