全国服务咨询热线:

15618996225

当前位置:首页  >  产品中心   >  激光调制与测量  >  

  • phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器基于Phasics的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm,结构紧凑,易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。

    访问次数:1977
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • phasics SID4 IR-MCT波前传感器集成了 Phasics四波横向剪切干涉技术和新一代冷却MCT探测系统。这种的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。

    访问次数:1839
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • Phasics SID4-Dwir波前传感器基于Phasics的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14µm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。

    访问次数:1908
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • Phasics SID4 UV波前传感器利用其的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和高灵敏度(0.5 nm RMS)。这确保了UV镜头,表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。

    访问次数:1963
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • 基于Phasics四波横向剪切干涉zhuan利技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个无yulun比的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微… Phasics 高分辨波前传感器

    访问次数:1595
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • 基于Phasics专li的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。 Phasics 波前传感器

    访问次数:1584
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • Phasics 波前传感器SID4-UVHR是*适用于光学元件的特性(用于光刻技术、半导体…)和表面检查(透镜和晶片…)。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。

    访问次数:1887
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
  • Phasics 波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120测量点)。

    访问次数:1534
    产品价格:10000
    更新日期:2026-01-06
共 76 条记录,当前 5 / 10 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

全国统一服务电话

021-62209657

电子邮箱:sales@eachwave.com

公司地址:上海市闵行区剑川路955号707-709室

业务咨询微信