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Phasics 波前传感器

简要描述:Phasics 波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120测量点)。

  • 产品型号:SID4 NIR
  • 更新时间:2023-03-30
  • 访  问  量:395

产品简介

品牌其他品牌价格区间面议
组件类别其他应用领域电子

详细介绍

Phasics SID4 NIR波前传感器

基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120测量点)。确保非常精确的波前测量。结构紧凑,很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。


SID4-HR                   光学器件测量                  自适应光学


Phasics SID4 NIR波前传感器特点:

由于其的技术,PhasicsSID4-NIR波前传感器具备以下特点:

1.高分辨率160x120测量点

2.高数值孔径测量:无需转镜头

3.消色差1.5-1.6μm

4.结构紧凑:易于集成于光学系统


Phasics SID4 NIR波前传感器应用:

SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学,如用于电信领域或光谱和夜视设备。

镜头表征:实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑,易于集成于试验台和生产线。

光学设备校准:它提供了一个非常准确的最小像差测量。

SID4 NIR产品参数:

波长范围

1500 - 1600 nm

通光孔径

3.6 x 4.8 mm2

空间分辨率

29.6 µm

采样点(相位/强度)

160 x 120 (> 19 000 points)

相位相对灵敏度

< 11 nm RMS

相位精度

15 nm RMS

动态范围

~

采样频率

> 60 fps

实时分析频率

> 10 fps (full resolution)

数据接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

44 x 33 x 57.5 mm

重量

~250 g



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