全国服务咨询热线:

15618996225

当前位置:首页  >  产品中心  >  激光调制与测量  >  波前分析仪  >  SID4法国Phasics SID4系列波前分析仪

法国Phasics SID4系列波前分析仪

简要描述:产品介绍:法国Phasics SID4系列波前分析仪(上海屹持光电代理),基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作为夏克-哈特曼技术的改进型,这种*的技术将超高分辨率和超大动态范围结合在一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。

  • 产品型号:SID4
  • 更新时间:2019-06-19
  • 访  问  量:810

产品简介

产地类别进口应用领域电子

详细介绍

法国PhasicsSID4系列波前分析仪

                  -----四波横向剪切干涉波前传感器

 

产品介绍:法国Phasics SID4系列波前分析仪(上海屹持光电代理),基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作为夏克-哈特曼技术的改进型,这种*的技术将超高分辨率和超大动态范围结合在一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。

主要应用领域:

1.       激光光束参数测量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直径,泽尼克/勒让德系数

2.       自适应光学:焦斑优化,光束整形

3.       元器件表面质量分析:表面质量(RMSPtVWFE),曲率半径

4.       光学系统质量分析:MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数光学镜头/系统质量控制

5.       热成像分析,等离子体特征分析

6.       生物应用:蛋白质等组织定量相位成像

产品特点:

1.       高分辨率:zui多采样点可达120000

2.       可直接测量:消色差设计,测量前无需再次对波长校准

3.       消色差:干涉和衍射对波长相消

4.       高动态范围:高达500μm

5.       防震设计,内部光栅横向剪切干涉,对实验条件要求简单,无需隔震平台也可测试

 

 型号参数:

型号

SID4

SID4-HR

SID4-DWIR

SID4-SWIR

SID4-NIR

SID4-UV

孔径mm

3.6 × 4.8

8.9 × 11.8

13.44 × 10.08

9.6 × 7.68

3.6 × 4.8

7.4 × 7.4

分辨率μm

29.6

29.6

68

120 µ

29.6

29.6

采样点

160 × 120

400 × 300

160 × 120

80 × 64

160 × 120

250 × 250

波长

400 -1100 nm

400 - 1100 nm

3 ~ 5 µm , 8 ~ 14 µm

0.9 ~ 1.7 µm

1.5 ~ 1.6 µm

250 ~ 450 nm

动态范围

> 100 µm

> 500 µm

N/A

~ 100 µm

> 100 µm

> 200 µm

精度

10 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

10 nm RMS

> 15 nm RMS

20 nm RMS

灵敏度

< 2 nm RMS

< 2 nm RMS

< 25 nm RMS

 <3/1nm RMS

< 11 nm RMS

2 nm RMS

采样频率

> 100 fps

> 10 fps

> 50 fps

25-60 fps

60 fps

30 fps

处理频率

10 Hz

3 Hz

20 Hz

> 10 Hz

10 Hz

> 2 Hz

尺寸mm

54 × 46 × 75.3

54 × 46 × 79

85 × 116 × 179

50 × 50 × 90

44 × 33 × 57.5

53 × 63 × 83

重量

250 g

250 g

1.6 kg

300 g

250 g

450 g

 

四波横向剪切干涉技术背景介绍

Phasics四波横向剪切干涉(上海屹持光电代理):当待测波前经过波前分析仪时,光波通过特制光栅(图1)后得到一个与其自身有一定横向位移的复制光束,此复制光波与待测光波发生干涉,形成横向剪切干涉,两者重合部位出现干涉条纹(图2)。被测波前可能为平面波或者汇聚波,对于平面横向剪切干涉,为被测波前在其自身平面内发生微小位移发生微小位移产生一个复制光波;而对于汇聚横向剪切干涉,复制光波由汇聚波绕其曲率中心转动产生。干涉条纹中包含有原始波前的差分信息,通过特定的分析和定量计算梳理(反傅里叶变换)可以再现原始波前(图3)。

    

         图1.特制光栅                                                                                              图2.几何光学描述波前畸变

 

 

图3. 波前相位重构示意图

技术优势

 

1.       高采样点:

高达400*300个采样点,具备强大的局部畸变测试能力,降低测量不准确性和噪声;同时得到高精度强度分布图。

2.       消色差:

干涉和衍射相结合抵消了波长因子,干涉条纹间距与光栅间距*相等。适应于不多波长光学测量且不需要重复校准,

3.       可直接测量高动态范围波前:

可见光波段可达500μm的高动态范围;可测试离焦量,大相差,非球面和复曲面等测。

 

               图4.测试对比图                                                图5. 消色差                                               图6.高动态范围测量

 

应用方向:

1.       激光光束测量

可以实时测量强度相位(2D/3D)信息,Zernike/Legendre系数,远场,光束参数,光束形状M2等。

 

                                       

2光学测量

Phasics波前传感器可对光学系统和元器件进行透射和反射式测量,专业Kaleo软件可分析PSF,MTF

                              光学测量                                                                                           透射式和反射式测量


3.光学整形:

利用Phasics波前传感器检测到精确的波前畸变信息,反馈给波前校正系统以补偿待测波前的畸变,从而得到目标波前相位分布和光束形状。右图上为把一束RMS=1.48λ的会聚光矫正为RMS=0.02λ的准平面波;右图下为把分散焦点光斑矫正为准高斯光束。高频率大气湍流自适应需要配合高频波前分析仪。

 

  

4.光学表面测量:

  PhasicsSID4软件可以直接测量PtV, RMS, WFE和曲率半径等,可直接进行自我校准,两次测量相位作差等。非常方便应用于平面球面等形貌测量。部分测量光路如右图所示

 

5.等离子体测量

法国Phasics公司SID4系列等离子体分析仪(Plasma Diagnosis)是一款便携式、高灵敏度、高精度的等离子体分析仪器。该产品可实时检测激光产生的等离子体的电子密度、模式及传播方式。监测等离子体的产生、扩散过程,以及等离子体的品质因数。更好地为客户在喷嘴设计、激光脉冲的照度、气压、均匀性等方面提供*化的数据支持。

 

 

附:夏克哈特曼和四波横向剪切干涉波前分析仪对比表

 

Phasics剪切干涉

夏克哈特曼

区别

技术

四波侧向剪切干涉

夏克-哈特曼

PHASICS SID4是对夏克-哈特曼技术的改进,投放市场时,已经申请技术,售出超过500个探测器。

重建方式

傅里叶变换

分区方法(直接数值积分)或模式法(多项式拟合)

夏克-哈特曼波前探测器,以微透镜单元区域的平均值来近似。对于大孔径的透镜单元,可能会增加信号误差,在某些情况,产生严重影响。在分区方法中,边界条件很重要。

光强度

由于采用傅里叶变换方法,测量对强度变化不敏感

由于需要测量焦点位置,测量对强度变化灵敏

关于测量精度,波前测量不依赖于光强度水平

使用、对准方便

界面直观,利用针孔进行对准

安装困难,需要精密的调节台

SID4 产品使用方便

取样(测量点)

SID4-HR300*400测量点

128*128测量点(微透镜阵列)

SID4-HR具有很高的分辨率。这使得测量结果更可靠,也更稳定

数值孔径

SID4 HR NA0.5

0.1

SID4-HR动态范围更高

空间分辨率

29.6μm

>100μm

SID4-HR空间分辨率更好

灵敏度

2nmRMS

约λ/100

SID4-HR具有更好的灵敏度

上海屹持光电技术有限公司作为法国Phasics中国区域代理商,*您为提供服务!

              

 

波前分析仪(波前传感器)相关产品

>> 法国Phasics SID4系列波前分析仪

>> Phasics SID4 NIR波前传感器

>> Phasics SID4-UVHR波前传感器

>> Phasics SID4-Swir波前传感器

>> Phasics SID4-HR高分辨波前传感器

>> Phasics SID4 UV波前传感器

>> Phasics SID4-Dwir波前传感器

>> phasics SID4 IR-MCT波前传感器

>> phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器

>> phasics SID4系列 波前分析仪

>> 夏克-哈德曼波前分析仪WFS Shack-Hartmann波前传感器

 

 

 

 

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

全国统一服务电话

021-62209657

电子邮箱:sales@eachwave.com

公司地址:上海市闵行区剑川路955号707-709室

业务咨询微信